Thermal decomposition of Ti1-xAlxN thin films in the focus of 3D-atom probe, transmission electron microscopy and X-ray diffraction
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Thermal decomposition of Ti1-xAlxN thin films in the focus of 3D-atom probe, transmission electron microscopy and X-ray diffraction |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2010 |
| Veranstaltung | International Workshop on In situ characterization of near-surface processes - Eisenerz, Österreich Dauer: 30 Mai 2010 → 3 Juni 2010 |
Konferenz
| Konferenz | International Workshop on In situ characterization of near-surface processes |
|---|---|
| Land/Gebiet | Österreich |
| Ort | Eisenerz |
| Zeitraum | 30/05/10 → 3/06/10 |
