Towards reliable modelling of ELNES of AlxGa1-xN and other AlN based ternary alloys
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Details
| Titel in Übersetzung | Towards reliable modelling of ELNES of AlxGa1-xN and other AlN based ternary alloys |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2011 |
| Veranstaltung | Microscopy of Semiconducting Materials 2011: MSM XVII - Cambridge, Großbritannien / Vereinigtes Königreich Dauer: 4 Apr. 2011 → 7 Apr. 2011 |
Konferenz
| Konferenz | Microscopy of Semiconducting Materials 2011 |
|---|---|
| Land/Gebiet | Großbritannien / Vereinigtes Königreich |
| Ort | Cambridge |
| Zeitraum | 4/04/11 → 7/04/11 |
