Markus Kratzer
91 - 100 von 113Seitengröße: 10
Publikationen
- Veröffentlicht
Controllable formation of nanoscale molecular structures on rutileTiO2(110): From highly anisotropic nanoneedles to dendritic islands
Wrana, D., Szajna, K., Kratzer, M., Belza, W., Jany, B. R., Teichert, C. & Krok, F., 25 Feb. 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combined Fe and Sr refining of Al-Si melt strategy for fabrication of hierarchical structure Si anodes
Ding, J., Sun, J., Ban, B., Jiang, X., Zhu, X., Mo, Z., Kratzer, M., Teichert, K. C. & Chen, J., 21 Apr. 2024, in: Chemical Engineering Journal. 489.2024, 1 June, 11 S., 151488.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Charging behavior of the calcite (100) surface investigated by KPFM
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Charge behavior on insulating monocrystallic surfaces by Kelvin probe force microscopy
Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C. & Flachberger, H., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
CdS Nanosize Single Crystals Growth and Morphology, Piezoelectric Properties and Prospects for Piezotronics
Grynko, D. O., Bortchagovsky, E., Doroshenko, T., Rachkov, A., Styopkin, V., Hesser, G., Kratzer, M. & Teichert, C., 18 Juli 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Biased KPFM of ZnO MLVs with/without galvanization
Kratzer, M. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Biased KPFM of two ZnO Varistors
Kratzer, M. & Teichert, C., 2014Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
