Lisa Maria Tengg

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Aktivitäten

  1. 2019

  2. Atomic force microscopy based electrical characterization of multiphase intermetallic TiAl alloys

    Kratzer, M. (Redner), Huszar, M. (Beitragende/r), Tengg, L. M. (Beitragende/r), Clemens, H. (Beitragende/r), Mayer, S. (Redner) & Teichert, C. (Beitragende/r)

    31 März 2019 → 5 Apr. 2019

    Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation

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