Atomic force microscopy based electrical characterization of multiphase intermetallic TiAl alloys

Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Teilnehmer

Datum

31 März 20195 Apr. 2019

Markus Kratzer - Redner

Michael Huszar - Beitragende/r

Lisa Maria Tengg - Beitragende/r

Helmut Clemens - Beitragende/r

Svea Mayer - Redner

Christian Teichert - Beitragende/r

31 März 20195 Apr. 2019

Veranstaltung (Konferenz)

TitelDPG Tagung
Zeitraum31/03/195/04/19