Atomic force microscopy based electrical characterization of multiphase intermetallic TiAl alloys
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation
Teilnehmer
- Markus Kratzer - Redner
- Michael Huszar - Beitragende/r
- Lisa Maria Tengg - Beitragende/r
- Helmut Clemens - Beitragende/r
- Svea Mayer - Redner
- Christian Teichert - Beitragende/r
Datum
31 März 2019 → 5 Apr. 2019
Markus Kratzer - Redner
Michael Huszar - Beitragende/r
Lisa Maria Tengg - Beitragende/r
Helmut Clemens - Beitragende/r
Svea Mayer - Redner
Christian Teichert - Beitragende/r
31 März 2019 → 5 Apr. 2019
Veranstaltung (Konferenz)
| Titel | DPG Tagung |
|---|---|
| Zeitraum | 31/03/19 → 5/04/19 |
