Karl Christian Teichert
Publikationen
- 2006
- Veröffentlicht
Self-organization of Nanostructures in Inorganic and Organic Semiconductor Systems
Teichert, C., Hofer, C. & Hlawacek, G., 2006, in: Advanced engineering materials. 8, S. 1057-1065Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Shadow deposition on self-organized semiconductor templates to fabricate arrays
Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Si and SiGe Surfaces: Nanostructure Formation During Growth and Ion-Bombardment
Hofer, C., Abermann, S. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Spontaneous rearrangement of para-sexiphenyl crystallites into nano-fibers
Teichert, C., Hlawacek, G., Andreev, A., Sitter, H., Frank, P., Winkler, A. & Sariciftci, N. S., 2006, in: Applied physics / A (Series A, Materials science & processing). 82, S. 665-669Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
The epitaxial sexiphenyl (001) monolayer on TiO2(110): A grazing incidence X-ray diffraction study
Resel, R., Hlawacek, G. & Teichert, C., 2006, in: Surface Science. 600, S. 4645-4649Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Behavior of SiO2 nanostrures under intense extreme ultraviolet illumination
Teichert, C. & Kremmer, S., 2005, in: Journal of applied physics. 97Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Bestimmung des Kontaktwinkels und der Oberflächenenergie von beschichteten Stahlproben
Hlawacek, G., Gürkan, N. & Teichert, C., 2005Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)
Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of cellulose fiber surfaces using atomic-force microscopy
Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Conductive-AFM measurements on cross sectional samples
Andreev, A. & Teichert, C., 2005Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
