Karl Christian Teichert

Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy

    Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Characterization of silicon gate oxides by conducting atomic-force microscopy

    Kremmer, S., Teichert, C., Pischler, E., Gold, H., Kuchar, F. & Schatzmayr, M., 2002, in: Surface and interface analysis. 33, S. 168-172

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM

    Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Characterization of semi-conducting nanorods by AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nanoscale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2007.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

    Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Characterization of Phospholipid Bilayers on Ti-6Al-4V and Ti-6Al-7Nb

    Pressl, D., Teichert, C., Hlawacek, G., Clemens, H., Iliev, P. P., Schuster, A., Feyerabend, F. & Willumeit, R., 2008, in: Advanced engineering materials. 10, S. B47-B52

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Characterization of MBE grown HfO2 films on Ge(001)

    Teichert, C., 2005.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy

    Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2010.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)