Karl Christian Teichert
501 - 507 von 507Seitengröße: 10
Publikationen
- Veröffentlicht
Morphology and growth kinetic of organic thin films deposited by hot wall epitaxy
Andreev, A., Teichert, C., Hlawacek, G., Hoppe, H., Resel, R., Smilgies, D.-M., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2004, in: Organic electronics. 5, S. 23-27Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates
Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Hou, Y., Haber, T., Resel, R., Teichert, C., Sitter, H. & Sariciftci, N. S., 2006, Para-sexiphenyl thin films grown on dielectric substrates. AIP, American Inst. of Physics, S. 328-328Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Para-Sexiphenyl Thin Films Grown by Hot Wall Epitaxy on KCI(001)substrates
Andreev, A., Montaigne, A., Hlawacek, G., Sitter, H. & Teichert, C., 2006, in: Journal of vacuum science & technology / A (JVST). 24, S. 1660-1663Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Nano-scale characterization of high-k dielectric materials by conducting atomic force microscopy
Andreev, A. & Teichert, C., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Oligophenyl thin films for Organic Field Effect Transistors
Andreev, A., Hlawacek, G., Sitter, H., Winkler, A., Ramsey, M., Resel, R., Teichert, C. & Sariciftci, N. S., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM
Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Piezoelectric Properties of Zinc Oxide Thin Films Grown by Plasma-Enhanced Atomic Layer Deposition
Abu Ali, T., Pilz, J., Schäffner, P., Kratzer, M., Teichert, C., Stadlober, B. & Coclite, A. M., Nov. 2020, in: Physica Status Solidi / A, Applications and Materials Science. 217, 21, 2000319.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)