Julius F. Keckes
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Publikationen
- 2015
- Veröffentlicht
Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films
Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2014
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Complementary ab initio and X-ray nanodiffraction studies of Ta2 O5
Hollerweger, R., Holec, D., Paulitsch, J., Bartosik, M., Daniel, R., Rachbauer, R., Polcik, P., Keckes, J., Krywka, C., Euchner, H. & Mayerhofer, P. H., 30 Okt. 2014, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Acta materialia. 83.2015, 15 January, S. 276-284 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2009
- Veröffentlicht
Novel technique to determine elastic constants of thin films
Daniel, R., Keckes, J., Martinschitz, K. J. & Mitterer, C., 2009, in: Materials Research Society symposium proceedings.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2008
- Veröffentlicht
Temperature dependence of residual stress gradients in shot-peened steel coated with CrN
Daniel, R., Keckes, J., Kirchlechner, C., Maier, G., Martinschitz, K. J. & Mitterer, C., 2008, in: Materials Science Forum .Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
