Igor Beinik
(Ehemalig)
Publikationen
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AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
Kratzer, M., Klima, S., Beinik, I., Shen, Q., Lugstein, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic force microscopy
Kratzer, M., Beinik, I., Teichert, C., Wang, L., Brauer, G. & Anwand, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Spectroscopy of Defects in Epitaxially Grown Para-sexiphenyl Nanostructures
Kadashchuk, A., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, EMRS Symposium O. S. 121-125Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Origin of the low-energy emission band in epitaxially grown para-sexiphenyl nanocrystallites
Kadashchuk, A., Schols, S., Heremans, P., Skryshevski, Y., Piryantinski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, in: Journal of chemical physics (The journal of chemical physics). 130, S. 084901-1-084901-9Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spectroscopy of defects in epitaxially grown para-sexiphenyl nanostructures
Kadashchuk, A., Schols, S., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, Interface Controlled Organic Thin Films. S. 121-125 (Springer proceedings in physics; Band 129).Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications
Galiana, B., Rey-Stolle, I., Beinik, I., Teichert, C., Algora, C., Molina-Aldareguia, J. M. & Tejedor, P., 2011, in: Solar energy materials and solar cells. 95, S. 1949-1954Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of ZnO nanostructures: A challenge to positron annihilation spectroscopy and other methods
Brauer, G., Anwand, W., Grambole, D., Beinik, I., Wang, L., Teichert, C., Kuriplach, J., Djurisic, A. & Skorupa, W., 2009, in: Physica status solidi / C. 6, S. 2556-2560Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
