Igor Beinik

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Publikationen

  1. Veröffentlicht

    Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM

    Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  2. Veröffentlicht

    Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy

    Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Scanning Probe Microscopy-based Characterization of ZnO Nanorods

    Teichert, C., Hou, Y., Beinik, I., Chen, Y., Djuricis, A., Anwand, W. & Brauer, G., 2010, Abstract CD IEEE International NanoElectronics Conference (INEC 2010). S. 438-439

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  4. Veröffentlicht

    Spatially resolved electrical characterization of InAs and InGaAs nanostructures by Conductive-AFM and Kelvin probe microscopz

    Tejedor, P., Vázquez, L., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2008.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Spectroscopy of defects in epitaxially grown para-sexiphenyl nanostructures

    Kadashchuk, A., Schols, S., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, Interface Controlled Organic Thin Films. S. 121-125 (Springer proceedings in physics; Band 129).

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  6. Veröffentlicht

    Spectroscopy of Defects in Epitaxially Grown Para-sexiphenyl Nanostructures

    Kadashchuk, A., Skryshevski, Y., Beinik, I., Teichert, C., Hernandez-Sosa, G., Sitter, H., Andreev, A., Frank, P. & Winkler, A., 2009, EMRS Symposium O. S. 121-125

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  7. Veröffentlicht

    Surface planarization and masked ion-beam structuring of YBa2Cu3O7 thin films

    Pedarnig, J. D., Siraj, K., Bodea, M. A., Puica, I., Lang, W., Kolarova, R., Bauer, P., Haselgrübler, K., Hasenfuss, C., Beinik, I. & Teichert, C., 2010, in: Thin solid films. 518, S. 7075-7080

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm

    Beinik, I. & Teichert, C., 2011

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

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