Igor Beinik
(Ehemalig)
Publikationen
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
Beinik, I. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures
Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy Techniques
Beinik, I., 2011, 118 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
