Gerhard Dehm
(Ehemalig)
Publikationen
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The effect of temperature and strain rate on the periodic cracking of amorphous AlxOy films on Cu
Taylor, A. A., Edlmayr, V., Cordill, M. & Dehm, G., 2011, in: Surface & coatings technology. 206, S. 1855-1859Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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The effect of film thickness variations in peridic cracking: Analysis and experiments
Taylor, A. A., Edlmayr, V., Cordill, M. & Dehm, G., 2011, in: Surface & coatings technology. 206, S. 1830-1836Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction
Sonnweber-Ribic, P., Gruber, P., Dehm, G. & Arzt, E., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 765-766Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Testing Thin Films by Microcompression: Benefits and Limits
Wörgötter, H.-P., Kiener, D., Purswani, J. M., Gall, D. & Dehm, G., 2008, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 153, S. 257-262Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Testing the Application of the Shear Lag Approximation to Thin Films on Cu and Polymer Substrates
Taylor, A., Cordill, M., Edlmayr, V., Raj, R. & Dehm, G., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Tensile behaviour of micro-sized copper wires studied using a novel fibre tensile module
Yang, B., Motz, C., Grosinger, W., Kammrath, W. & Dehm, G., 2008, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 99, S. 716-724Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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TEM Investigations of the Structural Evolution in a Pearlitic Steel Deformed by High-Pressure Torsion
Wetscher, F., Pippan, R., Sturm, S., Kauffmann, F., Scheu, C. & Dehm, G., 2006, in: Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science . 37, S. 1963-1968Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)
Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Synthesis of ab-initio and N-K, Ti-L2,3, V-L2,3 electron energy-loss near edge structure studie for TiN and VN films
Rashkova, B., Lazar, P., Redinger, J., Podloucky, R., Kothleitner, G., Sturm, S., Kutschej, K., Mitterer, C., Scheu, C. & Dehm, G., 2007, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 98, S. 1060-1065Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Study of nanometer-scaled lamellar microstructure in a Ti-45Al-7.5Nb alloy-Experiments and modeling
Fischer, F. D., Waitz, T., Scheu, C., Cha, L., Dehm, G., Antretter, T. & Clemens, H., 2010, in: Intermetallics. 18, S. 509-517Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
