Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

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Titel in ÜbersetzungTexture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)765-766
FachzeitschriftActa materialia
Jahrgang55
StatusVeröffentlicht - 2007