Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Details
Titel in Übersetzung | Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction |
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Originalsprache | Englisch |
Seiten (von - bis) | 765-766 |
Fachzeitschrift | Acta materialia |
Jahrgang | 55 |
Status | Veröffentlicht - 2007 |