Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Texture transition in Cu thin films: Electron backscatter diffraction vs. X-ray diffraction |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 765-766 |
| Fachzeitschrift | Acta materialia |
| Jahrgang | 55 |
| Status | Veröffentlicht - 2007 |
