Daniel Kiener
Publikationen
- 2006
- Veröffentlicht
In-situ TEM tensile testing of thin Au films: A transition in deformation mechanism
Oh, S. H., Kiener, D., Legros, M., Gruber, P., Arzt, E. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Micron beam bending and compression tests - micromechanical properties of copper
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T. & Dehm, G., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructural evolution of the deformed volume beneath microindents in tungsten and copper
Kiener, D., Pippan, R., Motz, C. & Kreuzer, E., 2006, in: Acta materialia. 54, S. 2801-2811Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructural investigation of the deformation zone below nanoindents in copper, silver and nickel
Rester, M., Kiener, D., Kreuzer, H., Dehm, G. & Motz, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Fokussierte Ionenstrahl-Technik (FIB) in der Mikro- und Nanomechanik
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 162-163Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
- Veröffentlicht
Fracture toughness investigations of tungsten alloys and severe plastic deformed tungsten alloys
Faleschini, M., Kiener, D., Knabl, W. & Pippan, R., 2005, International PLANSEE Seminar. S. 701-711Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Fracture toughness investigations of tungsten alloys and severe plastic deformed tungsten alloys
Faleschini, M., Kiener, D., Knabl, W. & Pippan, R., 2005.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentaions
Motz, C., Kiener, D., Kreuzer, H., Prantl, W. & Pippan, R., 2005, Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentaions. S. 459-464Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
- Veröffentlicht
Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 199-200Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
- 2004
- Veröffentlicht
Microstructural characterization of deformed volume beneath microindentations using FIB, EBSD and TEM
Motz, C., Kiener, D., Kreuzer, H., Prantl, W. & Pippan, R., 2004, Proceedings of the 25th Risø International Symposium on Materials Science: Evolution of Deformation Microstructures in 3D. S. 459-464Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
