Daniel Kiener
Publikationen
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Residual Stresses and Fracture Toughness in Multi-layered Thin Film Systems
Konetschnik, R., Kozic, D., Schöngrundner, R., Ganser, H. P., Brunner, R. & Kiener, D., 15 März 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Residual Stress Investigations in Thin Film Systems: Experiment and Simulation
Kozic, D., Treml, R., Sartory, B., Schöngrundner, R., Kiener, D., Antretter, T., Gänser, H.-P. & Brunner, R., 2014.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Resolving the fundamentals of the J-integral concept by multi-method in situ nanoscale stress-strain mapping
Meindlhumer, M., Alfreider, M., Sheshi, N., Hohenwarter, A., Todt, J., Rosenthal, M., Burghammer, M., Salvati, E., Keckes, J. & Kiener, D., 22 Feb. 2025, in: Communications materials. 2025, 6, 15 S., 35.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Revealing Deformation Mechanisms with Nanoindentation
Kiener, D., Durst, K., Rester, M. & Minor, A. M., 2009, in: JOM. 61, S. 14-23Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Revealing dynamic-mechanical properties of precipitates in a nanostructured thin film using micromechanical spectroscopy
Alfreider, M., Meindlhumer, M., Ziegelwanger, T., Daniel, R., Keckes, J. & Kiener, D., 25 Juni 2023, in: MRS Bulletin. 49.2024, 1, S. 49-58 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Reversible cyclic deformation mechanism of gold nanowires by twinning–detwinning transition evidenced from in situ TEM
Lee, S., Im, J., Yoo, Y., Bitzek, E., Kiener, D., Richter, G., Kim, B. & Oh, S. H., 2014, in: Nature Communications. 5, S. 1-10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sample Preparation by Metallography and Focused Ion Beam for Nanomechanical Testing
Moser, G., Felber, H., Rashkova, B., Imrich, P. J., Kirchlechner, C., Grosinger, W., Motz, C., Dehm, G. & Kiener, D., 2012, in: Practical metallography = Praktische Metallographie. 49, S. 343-355Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R. & Dehm, G., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 199-200Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Selective interface toughness measurements of layered thin films
Konetschnik, R., Daniel, R., Brunner, R. & Kiener, D., 9 März 2017, in: AIP Advances. 7.2017, 3, 5 S., 035307.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Site Specific Microstructural Evolution of Thermo-mechanically Fatigued Copper Films
Bigl, S., Wurster, S., Cordill, M. J. & Kiener, D., 18 Feb. 2015, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 160, 5, S. 235-239 5 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)