Montanuniversität
Organisation: Universität
Publikationen
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors
Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Burghammer, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Todt, J., 20 Juni 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 24.2022, August, 6 S., 101484.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray induced cationic curing of epoxy-bonded composites
Puchleitner, R., Rieß, G. & Kern, W., 2017, in: European polymer journal. 91.2017, June, S. 31-45 15 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray fluorescence sorting of non-ferrous metal fractions from municipal solid waste incineration bottom ash processing depending on particle surface properties
Pfandl, K., Küppers, B., Scheiber, S., Stockinger, G., Holzer, J., Pomberger, R., Antrekowitsch, H. & Höllen, D., 1 Feb. 2020, in: Waste management & research. 38, 2, S. 111 - 121 11 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray fluorescence raw intensities vs. concentration data for multivariate classification of hungarian coal
Rachetti, A., Wegscheider, W. & Borszéki, J., 1986, in: Analytica chimica acta. 191, C, S. 219-226 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction study of anthracene under high pressure
Oehzelt, M., Resel, R., Hummer, K., Puschnig, P., Draxl, C. & Nakayama, A., 2003, in: Synthetic Metals. 137, S. 913-914Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction of Pentacene on organic dielectrics
Moser, A., Flesch, H.-G., Neuhold, A., Edler, M., Grießer, T., Marchl, M., Trimmel, G., Golubkov, A., Haase, A., Smilgies, D.-M., Zojer, E. & Resel, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray Diffraction Computed Nanotomography Applied to Solve the Structure of Hierarchically Phase-Separated Metallic Glass
Stoica, M., Sarac, B., Spieckermann, F., Wright, J., Gammer, C., Han, J., Gostin, P. F., Eckert, J. & Löffler, J. F., 29 Jan. 2021, in: ACS nano. 15.2021, 2, S. 2386-2398 13 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
