Departments und Lehrstühle
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
Beinik, I. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures
Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Photoresponse from single upright standing ZnO nanorods explored by photoconductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Wachauer, A., Wang, L., Pyriatinsky, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurisic, A., 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology . 4, S. 208-217Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy Techniques
Beinik, I., 2011, 118 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Photoresponse from single upright-standing ZnO nanorods explored by photoconductive AFM
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Piryatinski, Y. P., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F., Djurišić, A. B. & Teichert, C., 17 Apr. 2013, in: Beilstein journal of nanotechnology. 4, 1, S. 208-217 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Erratum: Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy (Journal of Applied Physics (2011) 110 (052005))
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X. Y., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 1 Okt. 2012, in: Journal of applied physics. 112.2012, 7, 1 S., 079903.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Entscheidungsbesprechung › (peer-reviewed)
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Oil Production Prediction of Multi-fractured Horizontal Wells Using Data Science Techniques
Bejjar, W., 2021Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Masterarbeit
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Apparatus for measuring friction inside granular materials— Granular friction analyzer
Bek, M., Gonzalez-Gutierrez, J., Moreno Lopez, J. A., Bregant, D. & Emri, I., 24 Nov. 2015, in: Powder technology : an international journal on the science and technology of wet and dry particulate systems. 288, 2016, S. 255-265 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
