Department Physik, Mechanik und Elektrotechnik
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Growth of ultra-thin para-hexaphenyl layers on atomically-flat TiO2(110) surfaces
Belza, W., Szajna, K., Wrana, D., Kratzer, M., Teichert, C. & Krok, F., 25 Feb. 2018.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Molecular Structure and Electronic Properties of para-Hexaphenyl Monolayer on Atomically Flat Rutile TiO2(110)
Belza, W., Szajna, K., Kratzer, M., Wrana, D., Cieslik, K., Krawiec, M., Teichert, C. & Krok, F., 12 März 2020, in: Journal of Physical Chemistry C. 124.2020, 10, S. 5681-5689 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Visible light emission in graphene field effect transistors
Beltaos, A., Johan Bergren1, A., Bosnick, K., Pekas, N., Lane, S., Cui, K., Matkovic, A. & Meldrum, A., 28 Sept. 2017, in: Nano Futures. 1.2017, 2, 11 S., 025004.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Millimeterwave-Conductivity Experiments regarding Dynamical Scaling of the Integer Quantum Hall Effect
Belitsch, W., Meisels, R., Kuchar, F., Hein, G. & Pierz, K., 1998, in: Physica B: Condensed Matter. 249-251, S. 199-202Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanoscale electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Teichert, C., Rey-Stolle, I., Algora, C. & Tejedor, P., 2010, in: Journal of vacuum science & technology / B (JVST). 28, S. C5G5-C5G10Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Testmessungen mittels Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an 30 µm x 1600µm
Beinik, I. & Teichert, C., 2011Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Electrical properties of ZnO nanorods studied by conductive atomic force microscopy
Beinik, I., Kratzer, M., Wachauer, A., Wang, L., Lechner, R., Teichert, C., Motz, C., Anwand, W., Brauer, G., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djuricis, A., 2011, in: Journal of applied physics. 110, S. 052005-1-052005-7Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
