Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments and Institute
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Publikationen
- 2007
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Legierung für Wälzlager
Rabitsch, R., Peißl, S. K., Ebner, R. & Eglsäer, S., 15 März 2007Publikationen: Patent › Patentschrift
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Legierung für Wälzlager
Rabitsch, R., Peissl, S., Ebner, R. & Eglsäer, S., 15 März 2007Publikationen: Patent › Patentschrift
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24Monthly-Monthly Activity Report”
Mayrhofer, P. H. & Moser, M., 2007Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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53. Metallkunde-Kolloquium - Abstractband
Clemens, H. (Hrsg.) & Kneißl, A. (Hrsg.), 2007, Eigenverlag.Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung
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8. Tagung Gefüge und Bruch
Danzer, R., 2007, Eigenverlag.Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung
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A Comparison of the Electronic Structure of N-K in TiN and VN using EELS and ab-initio Calculations
Rashkova, B., Kothleitner, G., Sturm, S., Scheu, C., Kutschej, K., Mitterer, C., Lazar, P., Redinger, J., Podloucky, R. & Dehm, G., 2007, Microscopy and Microanalysis. S. 414-415Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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A Silicon Nitride Reference Material - A Testing Program of ESIS TC6
Lube, T. & Dusza, J., 2007, in: Journal of the European Ceramic Society. 27, S. 1203-1209Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A Study of Recrystallization and Phase Transitions in Intermetallic Titanium Aluminides by In-Situ High-Energy Diffraction
Liss, K-D., BARTELS, A., Clemens, H., Bystrzanowski, S., Stark, A., Buslaps, T., Schimansky, F-P., Gerling, R. & Schreyer, A., 2007, in: Materials Science Forum . 539-543, S. 1519-1524Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A comparison of different distributions of azimuth angles in the sin(2) psi-method
Ortner, B., 2007, in: International journal of materials research : IJMR ; Zeitschrift für Metallkunde. 98, S. 87-90Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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A direct method of determining complex depth profiles of residual stresses in thin films on a nanoscale
Massl, S., Keckes, J. & Pippan, R., 2007, in: Acta materialia. 55, S. 4835-4844Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
