Department Werkstoffwissenschaft
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Publikationen
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate curvatur method
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of residual stresses in thin films determined by the substrate
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Köstenbauer, H., Massl, S. & Keckes, J., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature dependence of in-plane stresses in sublayers of Al/AlN/Al2O3(0 0 0 1) structure
Keckes, J., Six, S., Gerlach, J. W. & Rauschenbach, B., 2004, in: Journal of crystal growth. 262, S. 119-123Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperature and Chemical Bonding Effects on the Brittle-to-Ductile Transition in Metal-Metalloid Glasses
Sopu, D., Moitzi, F. & Eckert, J., 2021.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)
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Temperaturabhängige mechanische Eigenschaften miniaturisierter Kupferstrukturen aus der Leistungshalbleiterelektronik
Smolka, M., 2011, 166 S.Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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TEM of Strengthening precipitates in AW7020 Alloy
Kumar, M., Whitmore, L., Poletti, C. & Degischer, H. P., 2010, Fortschritte in der Metallographie. Werkstoff-Informationsges., S. 253-258Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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TEM investigations on interactions of dislocations with boundaries
Imrich, P. J., 2015Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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TEM Investigations of the Structural Evolution in a Pearlitic Steel Deformed by High-Pressure Torsion
Wetscher, F., Pippan, R., Sturm, S., Kauffmann, F., Scheu, C. & Dehm, G., 2006, in: Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science . 37, S. 1963-1968Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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TEM characterization of CrN thin films epitaxially grown on MgO (001)
Harzer, T. P., Kormout, K., Daniel, R., Mitterer, C., Dehm, G. & Zhang, Z. L., 2012.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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TEM characterisation and Raman spectroscopy of vitrinite
Vranjes-Wessely, S., Misch, D., Kiener, D., Rantitsch, G., Groß, D. & Sachsenhofer, R., Mai 2019, S. 459. 460 S.Publikationen: Konferenzbeitrag › Abstract/Zusammenfassung › (peer-reviewed)