Department Werkstoffwissenschaft
Organisation: Departments and Institute
Publikationen
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Creep Behavior of a β-solidifying TiAl Alloy with Fully Lamellar Microstructure
Burtscher, M., Klein, T., Mayer, S. & Clemens, H., 28 Nov. 2016.Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung
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Creep Behaviour and Microstructural Stability of Ti-46Al-9Nb with Different Microstructures
Bystrzanowski, S., Bartels, A., Clemens, H., Gerling, R., Schimansky, F.-P. & Dehm, G., 2005, Intergrative and Interdisciplinary Aspects of Intermetallics. Materials Research Society : MRS, S. S7.12.1-S7.12.6Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Creep Behaviour and Related High Temperature Microstructural Stability of Ti-46Al-9Nb Sheet
Bystrzanowski, S., Bartels, A., Clemens, H., Gerling, R., Schimansky, F. P., Dehm, G. & Kestler, H., 2005, in: Intermetallics. 13, S. 515-524Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Creep Rupture Strength of Dissimilar CB2-P92 FCW Joint Welds
Baumgartner, S., Pahr, H. & Schnitzer, R., 2016, Advances in Materials Technoloy for Fossil Power Plants: Proceedings from the Eighth International Conference Oct 11-14, 2016, Albufeira, Algarve, Portugal. S. 952-962 11 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Critical aspects concerning large-scale production of a batch-annealed medium-Mn 780 MPa grade for automotive applications
Steineder, K., Krizan, D., Stadler, M., Ritsche, S., Berger, E., Holtmann, N., Schnitzer, R. & Schneider, R., 2022, 5th International High Manganese Steel Conference. S. 79-82Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Critical Aspects Concerning Large-scale Production of a Batch-annealed Medium-Mn 780 MPa Grade for Automotive Applications
Steineder, K., Krizan, D., Stadler, M., Ritsche, S., Berger, E., Holtmann, N., Schnitzer, R. & Schneider, R., 18 Nov. 2022, in: Berg- und hüttenmännische Monatshefte : BHM. 167.2022, 11, S. 513-516 4 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Critical assessment of the determination of residual stress profiles in thin films by means of the ion beam layer removal method
Schöngrundner, R., Treml, R., Antretter, T., Kozic, D., Ecker, W. & Kiener, D., 2014, in: Thin solid films. S. 321-330Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Critical Consideration of Precipitate Analysis of Fe-1 at.% Cu Using Atom Probe and Small-Angle Neutron Scattering
Schober, M., Eidenberger, E., Staron, P. & Leitner, H., 2011, in: Microscopy and microanalysis. S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Coppeta, R. A., Ceric, H., Holec, D. & Grasser, T., 2013.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Coppeta, R. A., Ceric, H., Holec, D. & Grasser, T., 2013, Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), 2013 IEEE International. S. 133-136Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
