Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate

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Autoren

Titel in Übersetzung	Critical thickness for GaN thin film on AlN substrate
Originalsprache	Englisch
Titel	Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), 2013 IEEE International
Seiten	133-136
DOIs	https://doi.org/10.1109/IIRW.2013.6804177
Status	Veröffentlicht - 2013