Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
- 2010
- Veröffentlicht
C-AFM and FFM measurements of tribological samples
Shen, Q. & Teichert, C., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Characterization of Kraft Pulp Fiber Surfaces using Higher Harmonic Atomic Force Microscopy
Schmied, F., Teichert, C., Kappel, L., Hirn, U. & Schennach, R., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Circuit type Simulatione of the Quantum Electron Transport
Oswald, J., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Combined C-AFM/PFM investigations of ZnO nanorods
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
Beinik, I., Galiana, B., Kratzer, M., Rey-Stolle, I., Algora, C., Tejedor, P. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive Atomic Force Microscopy Investigations of Organic Thin Films
Pavitschitz, A., 2010Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Kratzer, M., Flesch, H-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Dynamical polarization effect of nuclear spin bath dragged by electron spin resonance in double quantum dot integrated with micro-magnet
Brunner, R., 2010, J. Phys. Conf. Ser. S. 012046-012048Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Electrical, electro-mechanical and opto-electronical properties of ZnO nanorods studied by AFM technique
Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Brauer, G., Anwand, W., Chen, X., Hsu, Y. F. & Djurišić, A. B., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Elektrische Eigenschaften von Dünnfilmen auf der Nanoskala
Teichert, C., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
