Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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Numerical study of the influence of irradiation parameters on the microwave-induced stresses in granite for industrial applications
Toifl, M., Hartlieb, P., Meisels, R., Antretter, T. & Kuchar, F., 11 Apr. 2016, Comminution '16 - Proceedings.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Numerical study of the influence of irradiation parameters on the microwave-induced stresses in granite
Toifl, M., Hartlieb, P., Meisels, R., Antretter, T. & Kuchar, F., 2017, in: Minerals engineering. 103-104.2017, April, S. 78-92 15 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Influence of the microstructure on rock damage during microwave irradiation: a 3D numerical analysis
Toifl, M., Meisels, R., Hartlieb, P., Kuchar, F. & Antretter, T., 2015, Proceedings of Eurock 2015. Schubert, W. & Kluckner, A. (Hrsg.). S. 731-736Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Microwave absorption and its thermo-mechanical consequences in heterogeneous rocks
Toifl, M., Meisels, R., Hartlieb, P., Kuchar, F. & Antretter, T., 2015, Geomechanics from Micro to Macro - Proceedings of the TC105 ISSMGE International Symposium on Geomechanics from Micro to Macro, IS-Cambridge 2014. Band 2. S. 1545-1550 6 S.Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
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Computational simulation of instability phenomena in nanoparticles and nanofilms
Todt, M., Toth, F., Hartmann, M., Holec, D., Cordill, M. J., Fischer, F. D. & Rammerstorfer, F. G., 2014, in: Computational Technology Reviews. 10, S. 89-119Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)
Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Spatially resolved electrical characterization of InAs and InGaAs nanostructures by Conductive-AFM and Kelvin probe microscopz
Tejedor, P., Vázquez, L., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy
Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Nanostructure formation on ion eroded SiGe and Si surfaces
Teichert, C., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Pattern formation in PbTe multilayer films
Teichert, C., Jamnig, B. D. & Oswald, J., 2000, in: Surface Science. S. 823-826Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
