Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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Structural Characterization of Surfactant Aggregates Adsorbed in Cylindrical Silica Nanopores
Shin, T. G., Müter, D., Meissner, J., Paris, O. & Findenegg, G. H., 2011, in: Langmuir. 27, S. 5252-5263Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Aluminium oxide for an effective gate in Si/SiGe two-dimensional electron gas systems
Shin, Y. S., Brunner, R. & et.al., [. V., 2011, in: Semiconductor science and technology. 26, S. 05504-05507Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Single-spin readout in a double quantum dot including a micro-magnet
Shin, S. Y., Brunner, R. & et.al., [. V., 2010, in: Physical review letters. 104, S. 046802-046804Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Single electron spin addressing by using photon assistent-tunneling in a double quantum dot including a micro-magnet
Shin, S. Y., Brunner, R. & et.al, [. V., 2010, in: Physica E: Low-dimensional systems & nanostructures. 42, S. 825-828Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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C-AFM and FFM measurements of tribological samples
Shen, Q. & Teichert, C., 2010Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy
Shen, Q., Hlawacek, G., Kratzer, M., Flesch, H.-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2010.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Ex situ and In situ Characterization of Patterned Photoreactive Thin Organic Surface Layers Using Friction Force Microscopy
Shen, Q., Edler, M., Grießer, T., Knall, A.-C., Trimmel, G., Kern, W. & Teichert, C., 2014, in: Scanning. 36, S. 590-598Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Morphologic characterization of organosilane self-assembled monolayers on SiO2
Shen, Q., Hlawacek, G., Teichert, C., Lex, A., Slugovc, C., Trimmel, G., Pacher, P., Proschek, V. & Zojer, E., 2006.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Friction Force Microscopy characterization of organic thin films
Shen, Q., 2009Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Diplomarbeit
