Lehrstuhl für Physik (460)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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Complementary High Spatial Resolution Methods in Materials Science and Engineering
Paris, O., Lang, D., LI, J., Schumacher, P., Deluca, M., Daniel, R., Tkadletz, M., Schalk, N., Mitterer, C., Todt, J., Keckes, J., Zhang, Z., Popovski, G., Ganser, C., Teichert, C. & Clemens, H., 31 Dez. 2017, in: Advanced engineering materials. 19.2017, 4, 22 S., 1600671.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Comprehensive investigation of the viscoelastic properties of PMMA by nanoindentation
Christöfl, P., Czibula, C., Berer, M., Oreski, G., Teichert, C. & Pinter, G., 27 Nov. 2020, in: Polymer Testing. 93.2021, January, 9 S., 106978.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Computational Methods to Evaluate Gas Adsorption and Small Angle Scattering Data from Hierarchically Porous Materials
Ludescher, L., 2020Publikationen: Thesis / Studienabschlussarbeiten und Habilitationsschriften › Dissertation
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Computational simulation of instability phenomena in nanoparticles and nanofilms
Todt, M., Toth, F., Hartmann, M., Holec, D., Cordill, M. J., Fischer, F. D. & Rammerstorfer, F. G., 2014, in: Computational Technology Reviews. 10, S. 89-119Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductance fluctuations in PbTe wide parabolic quantum wells
Oswald, J., Heigl, G., Span, G., Homer, A., Ganitzer, P., Maude, D. K. & Portal, J. C., 1996, in: Physica B: Condensed Matter. 227, 1, S. 360-362Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductance Fluctuations in PbTe Wide Parabolic Quantum Wells
Oswald, J., Heigl, G., Span, G., Homer, A., Ganitzer, P., Maude, D. K. & Portal, J. C., 1995.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive AFM investigations of self-patterned InGaAs/GaAs(110) nanostructures
Beinik, I., Teichert, C., Díez-Merino, L. & Tejedor, P., 2008.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Conductive-AFM measurements on cross sectional samples
Andreev, A. & Teichert, C., 2005Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)
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Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Teichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
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Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
