Lehrstuhl für Materialphysik (430)
Organisation: Lehrstuhl
Publikationen
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Wetting behaviour of Cu-Ga alloys on 304L steel
Silze, F., Wiehl, G., Kaban, I., Wendrock, H., Gemming, T., Kühn, U., Eckert, J. & Pauly, S., 5 Feb. 2016, in: Materials & design. 91.2016, 5 February, S. 11-18 8 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Where are the geometrically necessary dislocations accommodating small imprints?
Rester, M., Motz, C. & Pippan, R., 2009, in: Journal of materials research (JMR). 24, S. 647-651Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Wieder ein Preis
Kiener, D., 2012, in: Kleine Zeitung / Steiermark - Leoben und rund um den Erzberg. S. 36-36Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Work hardening in micropillar compression: In situ experiments and modeling
Kiener, D., Guruprasad, P. J., Keralavarma, S. M., Dehm, G. & Benzerga, A. A., 2011, in: Acta materialia. 59, S. 3825-3840Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray diffraction analysis of three-dimensional residual stress fields reveals origins of thermal fatigue in uncoated and coated steel
Kirchlechner, C., Martinschitz, K. J., Daniel, R., Mitterer, C., Donges, J., Rothkirch, A., Klaus, M., Genzel, C. & Keckes, J., 2010, in: Scripta materialia. 62, S. 774-777Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray Diffraction Computed Nanotomography Applied to Solve the Structure of Hierarchically Phase-Separated Metallic Glass
Stoica, M., Sarac, B., Spieckermann, F., Wright, J., Gammer, C., Han, J., Gostin, P. F., Eckert, J. & Löffler, J. F., 29 Jan. 2021, in: ACS nano. 15.2021, 2, S. 2386-2398 13 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray elastic constants determined by the combination of the sin² psi and substrate-curvature methods
Eiper, E., Martinschitz, K.-J., Gerlach, J. W., Lackner, J. M., Zizak, I., Darowski, N. & Keckes, J., 2005, in: Zeitschrift für Metallkunde : international journal of materials research and advanced techniques. 96, S. 1069-1073Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors
Karner, S., Blank, O., Rösch, M., Burghammer, M., Zalesak, J., Keckes, J. & Todt, J., 20 Juni 2022, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materialia. 24.2022, August, 6 S., 101484.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
