Microscopy and microanalysis, ‎1431-9276

Fachzeitschrift: Zeitschrift

ISSNs1431-9276
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Publikationen

  1. 2012
  2. Veröffentlicht

    Quantitative Approaches for in situ SEM and TEM Deformation Studies

    Dehm, G., Kiener, D., Motz, C., Pippan, R. & Smolka, M., 2012, in: Microscopy and microanalysis. 18, S. 736-737

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  3. 2011
  4. Veröffentlicht

    Critical Consideration of Precipitate Analysis of Fe-1 at.% Cu Using Atom Probe and Small-Angle Neutron Scattering

    Schober, M., Eidenberger, E., Staron, P. & Leitner, H., 2011, in: Microscopy and microanalysis. S. 1-8

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. 2010
  6. Veröffentlicht

    Mitigating Focused Ion Beam Damage in Molybdenum Nanopillars by In Situ Annealing

    Lowry, M. B., Kiener, D., Le Blanc, B. B., Chisholm, C., Florando, J. N., Morris, J. W. J. & Minor, A. M., 2010, in: Microscopy and microanalysis. 16, S. 1748-1749

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. 2009
  8. Veröffentlicht

    Sensitivity and Quantitativity in Atom Probe Tomography

    Danoix, F., Bostel, A., Leitner, H., Jessner, P., Sauvage, X., Gouné, M. & Danoix, R., 2009, in: Microscopy and microanalysis. S. 258-259

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  9. 2007
  10. Veröffentlicht

    Conventional TEM investigation of the FIB damage in copper

    Kiener, D., Jörg, T., Rester, M., Motz, C. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 100-101

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Size-Induced Transition from Perfect to Partial Dislocation Plasticity in Single Crystal Au Films on Polyimide

    Oh, S. H., Legros, M., Kiener, D., Gruber, P. A. & Dehm, G., 2007, in: Microscopy and microanalysis. 13, S. 278-279

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  12. 2003
  13. Veröffentlicht

    Quantification of the Recrystallized Fraction in a Nickel-Base-Alloy from EBSD data

    Mitsche, S., Pölt, P., Sommitsch, C. & Walter, M., 2003, in: Microscopy and microanalysis. Suppl. 3, S. 344-345

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