Journal of applied crystallography, 0021-8898
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0021-8898, 1600-5767 |
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21 - 26 von 26Seitengröße: 10
Publikationen
- 2007
- Veröffentlicht
Pore lattice deformation in ordered mesoporous silica studied by in-situ small-angle X-ray diffraction
Zickler, G., Jähnert, S., Funari, S. S., Findenegg, G. H. & Paris, O., 2007, in: Journal of applied crystallography. 40, S. s522-s526Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2006
- Veröffentlicht
Rapid determination of stress factors and absolute residual stresses in thin films
Martinschitz, K. J., Eiper, E., Massl, S., Köstenbauer, H., Daniel, R., Fontalvo, G., Mitterer, C. & Keckes, J., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 777-783Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Symmetry properties and transformation behaviour of the X-ray stress factors
Ortner, B., 2006, in: Journal of applied crystallography. 39, S. 401-409Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2005
- Veröffentlicht
Lattice-constant and stress measurement in single crystals: a new method
Ortner, B., 2005, in: Journal of applied crystallography. 38, S. 678-684Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- Veröffentlicht
Simultaneous determination of experimental elastic and thermal strains in thin films
Keckes, J., 2005, in: Journal of applied crystallography. 38, S. 311-318Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
- 2003
- Veröffentlicht
Separation of scattering contributions from carbides and gamma' precipitates in Nimonic 80a by combining small-angle X-ray and neutron scattering
Zickler, G., Tian, B., Lind, C. & Paris, O., 2003, in: Journal of applied crystallography. 36, S. 484-488Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
