Journal of applied crystallography, 0021-8898
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| ISSNs | 0021-8898, 1600-5767 |
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Publikationen
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Pattern decomposition for residual stress analysis: a generalization taking into consideration elastic anisotropy and extension to higher-symmetry Laue classes
Schoderböck, P., Leibenguth, P. & Tkadletz, M., Aug. 2017, in: Journal of applied crystallography. 50.2017, 4, S. 1011-1020 10 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray analysis of residual stress gradients in TiN coatings by a Laplace space approach and cross-sectional nanodiffraction: a critical comparison
Steffenelli, M., Todt, J., Riedl, A., Ecker, W., Müller, T., Daniel, R., Burghammer, M. & Keckes, J., 2013, in: Journal of applied crystallography. 46, S. 1-8Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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X-ray nanodiffraction analysis of stress oscillations in a W thin film on through-silicon via
Todt, J., Hammer, H., Sartory, B., Burghammer, M., Kraft, J., Daniel, R., Keckes, J. & Defregger, S., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, S. 182-187 6 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Combinatorial refinement of thin-film microstructure, properties and process conditions: Iterative nanoscale search for self-assembled TiAlN nanolamellae
Zalesak, J., Todt, J., Pitonak, R., Köpf, A., Weißenbacher, R., Sartory, B., Burghammer, M., Daniel, R. & Keckes, J., 2016, in: Journal of applied crystallography. 49, 6, S. 2217-2225 9 S.Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Separation of scattering contributions from carbides and gamma' precipitates in Nimonic 80a by combining small-angle X-ray and neutron scattering
Zickler, G., Tian, B., Lind, C. & Paris, O., 2003, in: Journal of applied crystallography. 36, S. 484-488Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
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Pore lattice deformation in ordered mesoporous silica studied by in-situ small-angle X-ray diffraction
Zickler, G., Jähnert, S., Funari, S. S., Findenegg, G. H. & Paris, O., 2007, in: Journal of applied crystallography. 40, S. s522-s526Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
