Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
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Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. / Motz, Christian; Kiener, Daniel; Schöberl, Thomas et al.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 199-200.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 199-200.
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Motz, C, Kiener, D, Schöberl, T, Pippan, R & Dehm, G 2005, Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. in Handbuch der Nanoanalytik. pp. 199-200.
APA
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R., & Dehm, G. (2005). Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. In Handbuch der Nanoanalytik (pp. 199-200)
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Motz C, Kiener D, Schöberl T, Pippan R, Dehm G. Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. In Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 199-200
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author = "Christian Motz and Daniel Kiener and Thomas Sch{\"o}berl and Reinhard Pippan and Gerhard Dehm",
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TY - CHAP
T1 - Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
AU - Motz, Christian
AU - Kiener, Daniel
AU - Schöberl, Thomas
AU - Pippan, Reinhard
AU - Dehm, Gerhard
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Beitrag in Buch/Sammelband
SP - 199
EP - 200
BT - Handbuch der Nanoanalytik
ER -
