Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
Standard
Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. / Motz, Christian; Kiener, Daniel; Schöberl, Thomas et al.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. S. 199-200.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. S. 199-200.
Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Buch/Sammelband › Forschung
Harvard
Motz, C, Kiener, D, Schöberl, T, Pippan, R & Dehm, G 2005, Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. in Handbuch der Nanoanalytik. S. 199-200.
APA
Motz, C., Kiener, D., Schöberl, T., Pippan, R., & Dehm, G. (2005). Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. In Handbuch der Nanoanalytik (S. 199-200)
Vancouver
Motz C, Kiener D, Schöberl T, Pippan R, Dehm G. Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB. in Handbuch der Nanoanalytik. 2005. S. 199-200
Author
Bibtex - Download
@inbook{85a4db261de5426a9b75c8bceb451dc8,
title = "Sekund{\"a}rionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB",
author = "Christian Motz and Daniel Kiener and Thomas Sch{\"o}berl and Reinhard Pippan and Gerhard Dehm",
year = "2005",
language = "Deutsch",
pages = "199--200",
booktitle = "Handbuch der Nanoanalytik",
}
RIS (suitable for import to EndNote) - Download
TY - CHAP
T1 - Sekundärionen-Massensprektroskopie (SIMS) mittels FIB
AU - Motz, Christian
AU - Kiener, Daniel
AU - Schöberl, Thomas
AU - Pippan, Reinhard
AU - Dehm, Gerhard
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Beitrag in Buch/Sammelband
SP - 199
EP - 200
BT - Handbuch der Nanoanalytik
ER -
