Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium
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Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium. / Resch, C.; Keckes, Jozef; Eiper, Ernst et al.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 170-172.
Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 170-172.
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Resch, C, Keckes, J, Eiper, E & Resel, E 2005, Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium. in Handbuch der Nanoanalytik. pp. 170-172.
APA
Resch, C., Keckes, J., Eiper, E., & Resel, E. (2005). Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium. In Handbuch der Nanoanalytik (pp. 170-172)
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Resch C, Keckes J, Eiper E, Resel E. Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium. In Handbuch der Nanoanalytik. 2005. p. 170-172
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TY - CHAP
T1 - Hochtemperatur-Röntgendiffraktion - Spannungen und Deformationen in dünnen Aluminium-Schichten auf Silizium
AU - Resch, C.
AU - Keckes, Jozef
AU - Eiper, Ernst
AU - Resel, E.
PY - 2005
Y1 - 2005
M3 - Beitrag in Buch/Sammelband
SP - 170
EP - 172
BT - Handbuch der Nanoanalytik
ER -
