X-ray characterization of semiconductor nanostructures

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Autoren

Titel in Übersetzung	X-ray characterization of semiconductor nanostructures
Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	064002/1- 064002/7
Fachzeitschrift	Semiconductor science and technology
Jahrgang	26
DOIs	https://doi.org/10.1088/0268-1242/26/6/064002
Status	Veröffentlicht - 2011