Thermography and complementary measurements as tools to detect micro-irregularities in electronic components
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- Materials Center Leoben Forschungs GmbH
- Epcos OHG
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 255-260 |
| Seitenumfang | 6 |
| Fachzeitschrift | Journal of ceramic science and technology |
| Jahrgang | 6 |
| Ausgabenummer | 4 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - Dez. 2015 |
