The contact charging of insulators by atomic force microscopy
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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The contact charging of insulators by atomic force microscopy. / Mirkowska, Monika; Kratzer, Markus; Teichert, Christian et al.
2012. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2012, Graz, Österreich.
2012. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2012, Graz, Österreich.
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Mirkowska, M, Kratzer, M, Teichert, C & Flachberger, H 2012, 'The contact charging of insulators by atomic force microscopy', ÖPG Jahrestagung 2012, Graz, Österreich, 18/10/12 - 21/10/12.
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Mirkowska, M., Kratzer, M., Teichert, C., & Flachberger, H. (2012). The contact charging of insulators by atomic force microscopy. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2012, Graz, Österreich.
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Mirkowska M, Kratzer M, Teichert C, Flachberger H. The contact charging of insulators by atomic force microscopy. 2012. Postersitzung präsentiert bei ÖPG Jahrestagung 2012, Graz, Österreich.
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title = "The contact charging of insulators by atomic force microscopy",
author = "Monika Mirkowska and Markus Kratzer and Christian Teichert and Helmut Flachberger",
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TY - CONF
T1 - The contact charging of insulators by atomic force microscopy
AU - Mirkowska, Monika
AU - Kratzer, Markus
AU - Teichert, Christian
AU - Flachberger, Helmut
PY - 2012
Y1 - 2012
M3 - Poster
T2 - ÖPG 2012
Y2 - 18 October 2012 through 21 October 2012
ER -
