Strain-induced effects on the electronic structure and n K-edge ELNES of wurtzite AlN and AlxGa1-xN

Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

Autoren

  • M. Petrov
  • David Holec
  • L. Lymperakis
  • J Neugebauer
  • C.J. Humphreys

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungStrain-induced effects on the electronic structure and n K-edge ELNES of wurtzite AlN and AlxGa1-xN
OriginalspracheEnglisch
TitelProceeding of International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials 2011
Seiten1-4
DOIs
StatusVeröffentlicht - 2011