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Direct observation of crack arrest after bridge notch failure: A strategy to increase statistics and reduce FIB-artifacts in micro-cantilever testing
Zhang, Y., Bartosik, M., Brinckmann, S., Lee, S. & Kirchlechner, C., Sept. 2023, in: Materials and Design. 233.2023, September, 7 S., 112188.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Cyclic bending experiments on free-standing Cu micron lines observed by electron backscatter diffraction
Wimmer, A. C., Heinz, W., Detzel, T., Robl, W., Nellessen, M., Kirchlechner, C. & Dehm, G., 2015, in: Acta materialia. 83, S. 460-469
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
The effect of size on the strength of FCC metals at elevated temperatures: annealed copper
Wheeler, J. M., Kirchlechner, C., Micha, J.-S., Michler, J. & Kiener, D., 1 Dez. 2016, in: Philosophical magazine. 96.2016, 32-34, S. 3379-3395 17 S.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
New insights into single-grain mechanical behavior from temperature-dependent 3-D coherent X-ray diffraction
Vaxelaire, N., Labat, S., Cornelius, T., Kirchlechner, C., Keckes, J., Schülli, T. & Thomas, O., 2014, in: Acta materialia. 78, S. 46-55
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
3D strain imaging in sub-micrometer crystals using cross-reciprocal space measurements: Numerical feasibility and experimental methodology
Vaxelaire, N., Labat, S., Chamard, V., Thomas, O., Jaques, V., Picca, F., Ravy, S., Kirchlechner, C. & Keckes, J., 2010, in: Nuclear instruments & methods in physics research / B Beam interactions with materials and atoms. S. 388-393
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction
Vaxelaire, N., Proudhon, H., Labat, S., Kirchlechner, C., Keckes, J., Jaques, V., Ravy, S., Forest, S. & Thomas, O., 2010, in: New journal of physics. S. 1-12
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Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.
Compressed Bi-crystal micropillars showing a sigmoidal deformation state – A computational study
Toth, F., Kirchlechner, C., Fischer, F.-D., Dehm, G. & Rammerstorfer, F. G., 26 Mai 2017, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) in: Materials science and engineering: A, Structural materials: properties, microstructure and processing. 700.2017, 17 July, S. 168-174 7 S.
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
An in-situ high-energy X-ray diffraction study on the hot-deformation behavior of a beta-phase containing TiAl alloy
Schmölzer, T., Liss, K.-D., Kirchlechner, C., Mayer, S., Stark, A., Peel, M. & Clemens, H., 2013, in: Intermetallics. 39, S. 25-33
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Effects of structure and interfaces on fracture toughness of CrN/AlN multilayer coatings
Schlögl, M., Kirchlechner, C., Paulitsch, J., Keckes, J. & Mayrhofer, P., 2013, in: Scripta materialia. 68, S. 917-920
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Laue Microdiffraction at the ESRF
Robach, O., Kirchlechner, C., Micha, J.-S. & Ulrich, O., 2014, Strain and Dislocation Gradients from Diffraction. S. 156-204
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New insights into single-grain mechanical behavior from temperature-dependent 3-D coherent X-ray diffraction

3D strain imaging in sub-micrometer crystals using cross-reciprocal space measurements: Numerical feasibility and experimental methodology

Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films during in situ thermal loading using coherent x-ray diffraction

Compressed Bi-crystal micropillars showing a sigmoidal deformation state – A computational study

An in-situ high-energy X-ray diffraction study on the hot-deformation behavior of a beta-phase containing TiAl alloy

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Laue Microdiffraction at the ESRF

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