Publikationen

  1. 2008
  2. Veröffentlicht

    Theoretical study of strain effects on elnes and electronic structure of AIgaN

    Holec, D., Petrov, M., Lymperakis, L., Humphreys, C. J. & Neugebauer, J., 2008.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  3. 2009
  4. Veröffentlicht

    Ab inito calculations of electron energy loss near edge structure of ternary alloys

    Holec, D., Mayrhofer, P. H. & Humphreys, C. J., 2009.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht
  6. Veröffentlicht

    HAnSIS software tool for the automated analysis of HOLZ lines

    Holec, D., Humphreys, C. J. & Rao, D. V. S., 2009, in: Ultramicroscopy. 109, S. 837-844

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Structural properties of wurtzitelike ScGaN films grown by NH3-molecular beam epitaxy

    Moram, M. A., Zhang, Y., Joyce, T. B., Holec, D., Chalker, P. R., Mayrhofer, P. H., Kappers, M. J. & Humphreys, C. J., 2009, in: Journal of applied physics. 106, S. 1135331-1135336

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. 2010
  9. Veröffentlicht

    Combined structure-factor phase measurement and theoretical calculations for mapping of chemical bonds in GaN

    Jiang, B., Zuo, J. M., Holec, D., Humphreys, C. J., Spackman, M. & Spence, C. H., 2010, in: Acta crystallographica / A (Section A, Foundations of crystallography). S. 446-450

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Effect of Grain Size on the Residual Stress State and Thermal Expansion in Magnetron Sputtered Thin Films

    Daniel, R., Holec, D., Keckes, J. & Mitterer, C., 2010, Proceedings 37th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films. S. 63-63

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

  11. Veröffentlicht

    Imaging dislocations in gallium nitride across broad areas using atomic force microscopy

    Bennett, S. E., Holec, D., Kappers, M. J., Humphreys, C. J. & Oliver, R. A., 2010, in: Review of scientific instruments. S. 0637011-0637017

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Influence of Nb on the phase stability of Ti-Al-N

    Mayrhofer, P. H., Rachbauer, R. & Holec, D., 2010, in: Scripta materialia. 63, S. 807-810

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  13. Veröffentlicht
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