Publikationen

  1. 2001
  2. Veröffentlicht

    Use of atomic spectrometry for the investigation of ancient manuscripts

    Wagner, B., Bulska, E., Meisel, T. & Wegscheider, W., 2001, in: Journal of analytical atomic spectrometry.

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  3. 2000
  4. Veröffentlicht

    A new Approach for the Lu-Hf Isotope System: a Combined Digestion and Separation Method for Lu-Hf, Sm-Nd and REE

    Kleinhanns, I. C., Kreissig, K., Nägler, T. F., Kamber, B. S., Meisel, T. & Kramers, J. D., 2000.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Comparative performance study of ICP mass spectrometers by means of U isotopic measurements

    Prohaska, T., Quétel, C., Vogl, J. & Taylor, P., 2000, in: Fresenius' journal of analytical chemistry .

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht
  7. Veröffentlicht

    Determination of Rare Earth Elements (REE) in geological samples by sodium peroxide sintering and ICP-MS detection

    Meisel, T., 2000, in: Agilent ICP-MS Journal. 8, S. 6-6

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Determination of trace elements in human milk by inductively coupled plasma sector field mass spectrometry (ICP-SFMS)

    Prohaska, T. & Stingeder, G., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 335-340

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht
  10. Veröffentlicht

    Lead isotope ratio analysis in a soil profile by inductively coupled plasma sectorfield mass spectrometry

    Prohaska, T., Watkins, M., Latkoczy, C., Wenzel, W. W. & Stingeder, G., 2000, in: Journal of analytical atomic spectrometry. S. 365-370

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Measurement Uncertainty of Osmium-Isotope Ratios. A Call for a Fitness for Purpose Evalution

    Meisel, T., Moser, J. & Wegscheider, W., 2000.

    Publikationen: KonferenzbeitragPosterForschung(peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Observation of structural depth profile of porous silicon by atomic force microscopy

    Prohaska, T. & Chang, D., 2000, in: Journal of porous materials. S. 349-352

    Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)