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  1. 2009
  2. Veröffentlicht

    Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

    Pavitschitz, A., Beinik, I., Kratzer, M., Teichert, C., Schwabegger, G., Sitter, H., Simbrunner, C., Grießer, T. & Kern, W., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Conductive atomic force microscopy study of InAs growth kinetics on vicinal GaAs (110)

    Tejedor, P., Díez-Merino, L., Beinik, I. & Teichert, C., 2009, in: Applied physics letters. 95, S. 123103-1-123103-3

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Defektbildung und Ladungsträgereinfang in epitaktisch gewachsenen organischen Nanostrukturen

    Teichert, C., 2009

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Domain Orientation Characterization of Para-sexiphenyl and Tiophene based SAM Films by Transverse Shear Microscopy

    Shen, Q., Hlawacek, G., Flesch, H-G., Potocar, T., Resel, R., Winkler, A. & Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Ehrlich Schwoebel barriers in organic thin film growth

    Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Elektrische Eigenschaften von Dünnfilmen auf der Nanoskala

    Teichert, C., 2009

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Exploring fundamental growth morphologies in organic thin film systems

    Teichert, C., 2009

    Publikationen: Buch/Bericht › Forschungsbericht › Transfer › (peer-reviewed)

  9. Veröffentlicht

    Hierarchy of adhesion forces in patterns of photoreactive surface layers

    Hlawacek, G., Shen, Q., Teichert, C., Lex, A., Trimmel, G. & Kern, W., 2009, in: Journal of chemical physics (The journal of chemical physics). 130, S. 44703-1-44703-5

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    High Resolution RBS on High-k Dielectrics

    Teichert, C., 2009.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    In situ characterization of near surface-surface processes with special focus on surface sensitive electron microscopy methods (PEEM/LEEM)

    Teichert, C. (Hrsg.), 2009, Eigenverlag.

    Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung

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