Publikationen

501 - 510 von 736Seitengröße: 10

Sortieren nach: Erscheinungsjahr

2006
Veröffentlicht
Atomistic Modelling of Optical Properties of Thin Films
Puschnig, P. & Ambrosch-Draxl, C., 2006, in: Advanced engineering materials. 8, S. 1151-1155
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterisation of fibrillar and pore structure in natural and man-made cellulose fibres by modern imaging techniques
Teichert, C., 2006, Proceedings Int. Conf. on Polymer Fibres 2006, Manchester, July 12-14 2006, 4 pages. S. 1-4
Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband
Veröffentlicht
Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy
Brauer, G., Anwand, W., Skorupa, W., Brandstetter, S. & Teichert, C., 2006, in: Journal of applied physics. 99, S. 023523-1-023523-8
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Brauer, G., Anwand, W., Eichhorn, E., Skorupa, W., Hofer, C., Teichert, C., Kuriplach, J., Cizek, J., Prochazka, I., Coleman, P. G., Nozawa, T. & Kohyama, A., 2006, in: Applied surface science. 252, S. 3342-3351
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of cellulose fiber surfaces and cross-sections using atomic force microscopy
Hosemann, P., Schmied, F., Teichert, C. & Schuster, K. C., 2006.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of semi-conducting nanorods by AFM
Hou, Y., Andreev, A. & Teichert, C., 2006.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM
Andreev, A., Hou, Y. & Teichert, C., 2006.
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Veröffentlicht
Coherent random lasing in the deep blue from self-assembled organic nanofibers
Andreev, A., Quochi, F., Cordella, F., Mura, A., Bongiovanni, G., Sitter, H., Hlawacek, G., Teichert, C. & Sariciftci, N. S., 2006, in: Journal of applied physics. 99, S. 034305-1-034305-6
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

Vorherige 1...47 48 49 50 51 52 53 54 ...74 Nächste

Forschungsportal

Publikationen

Atomistic Modelling of Optical Properties of Thin Films

Characterisation of fibrillar and pore structure in natural and man-made cellulose fibres by modern imaging techniques

Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy

Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies

Characterization of cellulose fiber surfaces and cross-sections using atomic force microscopy

Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

Characterization of piezo ceramics on the nano scale by Conducting AFM

Characterization of semi-conducting nanorods by AFM

Characterization of semiconducting nanorods by AFM and conducting AFM

Coherent random lasing in the deep blue from self-assembled organic nanofibers

Erweiterte Suche