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  1. 2015
  2. Veröffentlicht

    Recent progress in advanced characterization methods for the development of hard coatings: From improved composition/microstructure/property relations to insights in degradation behavior

    Mitterer, C., Mühlbacher, M., Zeilinger, A., Stefenelli, M., Daniel, R., Tkadletz, M., Schalk, N., Sartory, B. & Keckes, J., 2015.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Residual stress gradients in alpha-Al2O3 hard coatings determined by pencil-beam X-ray nanodiffraction: The influence of blasting media

    Tkadletz, M., Keckes, J., Schalk, N., Krajinovic, I., Burghammer, M., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015, in: Surface & coatings technology. 262, S. 134-140

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Residual stress gradients in α-Al2O3 hard coatings determined by pencil-beam X-ray nanodiffraction: The influence of blasting media

    Tkadletz, M., Keckes, J., Schalk, N., Krajinovic, I., Burghammer, M., Czettl, C. & Mitterer, C., 2015, in: Surface & coatings technology. 262, S. 134 - 140 7 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  5. Veröffentlicht

    Resolving depth evolution of microstructure and hardness in sputtered CrN film

    Zeilinger, A., Daniel, R., Schöberl, T., Stefenelli, M., Sartory, B., Keckes, J. & Mitterer, C., 2015, in: Thin solid films. 581.2015, April, S. 75-79

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  6. Veröffentlicht

    Software Package to evaluate two-dimensional X-ray nanodiffraction data from thin films

    Keckes, J., Stefenelli, M., Todt, J., Mitterer, C., Daniel, R. & Keckes, J., 2015.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

    Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. 2014
  9. Veröffentlicht

    Mono-textured nanocrystalline thin films with pronounced stress-gradients: On the role of grain boundaries in the stress evolution

    Daniel, R., Jäger, E., Todt, J., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 28 Mai 2014, in: Journal of applied physics. 115, 20, 203507.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  10. Veröffentlicht

    Macroscopic fracture behaviour of CrN hard coatings evaluated by X-ray diffraction coupled with four-point bending

    Stefenelli, M., Riedl, A., Todt, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 1 Jan. 2014, Materials Science Forum. Band 768-769. S. 272-279 8 S. (Materials Science Forum; Band 768-769).

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  11. Veröffentlicht

    A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

    Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    A new method for polychromatic X-ray μLaue diffraction on a Cu pillar using an energy-dispersive pn-junction charge-coupled device

    Abboud, A., Kirchlechner, C., Send, S., Micha, J. S., Ulrich, O., Pashniak, N., Strüder, L. W. J., Keckes, J. & Pietsch, U., 2014, in: Review of scientific instruments. 85, S. 1139011-1139018

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

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