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  1. 2015
  2. Veröffentlicht

    X-ray nanodiffraction reveals stress distribution across an indented multilayered CrN-Cr thin film

    Steffenelli, M., Daniel, R., Ecker, W., Kiener, D., Todt, J., Zeilinger, A., Mitterer, C., Burghammer, M. & Keckes, J., 2015, in: Acta materialia. 85, S. 24-31

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  3. Veröffentlicht

    Young's Modulus and Poisson's Ratio Characterization of Tungsten Thin Films via Laser Ultrasound

    Grünwald, E., Nuster, R., Treml, R., Kiener, D., Paltauf, G. & Brunner, R., 2015, in: Materials Today: Proceedings. 2, S. 4289-4294

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  4. Veröffentlicht

    Zukunft der Metalle

    Kiener, D., 2015.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)

  5. 2014
  6. Veröffentlicht

    Extreme ductility at the nanoscale in Fe-based alloys

    Hintsala, E., Kiener, D. & Gerberich, W. W., 1 Aug. 2014, in: Microscopy and microanalysis. 20, 3, S. 1876-1877 2 S.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  7. Veröffentlicht

    Mono-textured nanocrystalline thin films with pronounced stress-gradients: On the role of grain boundaries in the stress evolution

    Daniel, R., Jäger, E., Todt, J., Sartory, B., Mitterer, C. & Keckes, J., 28 Mai 2014, in: Journal of applied physics. 115, 20, 203507.

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  8. Veröffentlicht

    Macroscopic fracture behaviour of CrN hard coatings evaluated by X-ray diffraction coupled with four-point bending

    Stefenelli, M., Riedl, A., Todt, J., Bartosik, M., Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 1 Jan. 2014, Materials Science Forum. Band 768-769. S. 272-279 8 S. (Materials Science Forum; Band 768-769).

    Publikationen: Beitrag in Buch/Bericht/Konferenzband › Beitrag in Konferenzband

  9. Veröffentlicht

    60. Metallkunde Jubiläumskolloquium - Abstractband

    Mitterer, C. (Hrsg.) & Clemens, H. (Hrsg.), 2014, Eigenverlag.

    Publikationen: Buch/Bericht › Sammelband › Forschung

  10. Veröffentlicht

    A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

    Riedl, A., Daniel, R., Todt, J., Steffenelli, M., Holec, D., Sartory, B., Krywka, C., Müller, M., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014, in: Surface & coatings technology. 257, S. 108-113

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

  11. Veröffentlicht

    Controlled functionality of thin films through advanced microstructural design

    Daniel, R., Mitterer, C. & Keckes, J., 2014.

    Publikationen: Konferenzbeitrag › Vortrag › Forschung › (peer-reviewed)

  12. Veröffentlicht

    Critical assessment of the determination of residual stress profiles in thin films by means of the ion beam layer removal method

    Schöngrundner, R., Treml, R., Antretter, T., Kozic, D., Ecker, W. & Kiener, D., 2014, in: Thin solid films. S. 321-330

    Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › (peer-reviewed)

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