Positional and orientational referencing of multiple light sectioning systems for precision profile measurement
Publikationen: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › (peer-reviewed)
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Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Aufsatznummer | 10 |
| Seiten (von - bis) | 74-85 |
| Seitenumfang | 12 |
| Fachzeitschrift | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Jahrgang | 5679 |
| DOIs | |
| Status | Veröffentlicht - 21 Juli 2005 |
| Veranstaltung | Proceedings of SPIE-IS and T Electronic Imaging - Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII - San Jose, CA, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 17 Jan. 2005 → 18 Jan. 2005 |
