Patterned Photoreactive Surface Layers Characterized by Friction Force Microscopy and Conductive Atomic-Force Microscopy
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
Autoren
Organisationseinheiten
Details
| Titel in Übersetzung | Patterned Photoreactive Surface Layers Characterized by Friction Force Microscopy and Conductive Atomic-Force Microscopy |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Status | Veröffentlicht - 2011 |
| Veranstaltung | MRS Spring Meeting 2011 - San Francisco, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 25 Apr. 2011 → 29 Apr. 2011 |
Konferenz
| Konferenz | MRS Spring Meeting 2011 |
|---|---|
| Land/Gebiet | USA / Vereinigte Staaten |
| Ort | San Francisco |
| Zeitraum | 25/04/11 → 29/04/11 |
