Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x
Publikationen: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › (peer-reviewed)
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Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x. / Teichert, Christian.
2009. Postersitzung präsentiert bei DPG Frühjahrstagung Dresden, Dresden, Deutschland.
2009. Postersitzung präsentiert bei DPG Frühjahrstagung Dresden, Dresden, Deutschland.
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Teichert, C 2009, 'Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x', DPG Frühjahrstagung Dresden, Dresden, Deutschland, 23/03/09 - 27/03/09.
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Teichert, C. (2009). Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x. Postersitzung präsentiert bei DPG Frühjahrstagung Dresden, Dresden, Deutschland.
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Teichert C. Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x. 2009. Postersitzung präsentiert bei DPG Frühjahrstagung Dresden, Dresden, Deutschland.
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title = "Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x",
author = "Christian Teichert",
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language = "English",
note = "DPG Dresden ; Conference date: 23-03-2009 Through 27-03-2009",
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TY - CONF
T1 - Morphological properties of three dimensional Ge nanoclusters grown on SiOx (x
AU - Teichert, Christian
PY - 2009
Y1 - 2009
M3 - Poster
T2 - DPG Dresden
Y2 - 23 March 2009 through 27 March 2009
ER -
