LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2

Publikationen: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschung(peer-reviewed)

Autoren

Organisationseinheiten

Details

Titel in ÜbersetzungLEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1163-1166
FachzeitschriftJournal of electron spectroscopy and related phenomena
Jahrgang144-147
StatusVeröffentlicht - 2005