TY - JOUR

T1 - Laser-Speckle-Dehnungsmessung und deren Anwendung in der Materialwissenschaft

AU - Thurner, Thomas

AU - Schneider, S. C.

AU - Zagar, Bernhard

PY - 2003/2/1

Y1 - 2003/2/1

N2 - In diesem Artikel werden Prinzip, Aufbau und Einsatzmöglichkeiten sowie ausgewählte Messergebnisse für zwei auf Laser-Speckle-Verfahren beruhende Sensorsysteme erläutert und gegenübergestellt. Der grundsätzliche Unterschied zwischen den Systemen besteht in der optischen Anordnung. Im ersten System werden zwei kleine, mit Laserlicht beleuchtete Oberflächenbereiche maßstabsgetreu auf eine Kamera mit genau definierter Geometrie (CCD) abgebildet und deren belastungsbedingte Verschiebung mit hoher Auflösung ermittelt. Der Laser übernimmt dabei die Funktion der Erzeugung eines kontrastreichen Musters, welches charakteristisch für die betrachteten Oberflächenbereiche der Probe ist (Fingerabdruck der Oberfläche). Die Differenz der beiden Verschiebungswerte, bezogen auf die durch den Abstand der beobachteten Bereiche definierte Basislänge, ergibt die gesuchte Dehnung der Probe. Da die Auflösung des Systems mit zunehmender Basislänge besser wird und das Messprinzip aber über eben diese Basislänge mittelt und viele Anwender einen Sensor benötigen, der die Messgröße ortsmäßig auflösen kann, wurde ein in dieser Hinsicht verbessertes Verfahren basierend auf einer Idee von Yamaguchi entwickelt. In diesem Artikel werden Eigenschaften und Anwendungsmöglichkeiten beider Systeme gegenübergestellt und diskutiert.

AB - In diesem Artikel werden Prinzip, Aufbau und Einsatzmöglichkeiten sowie ausgewählte Messergebnisse für zwei auf Laser-Speckle-Verfahren beruhende Sensorsysteme erläutert und gegenübergestellt. Der grundsätzliche Unterschied zwischen den Systemen besteht in der optischen Anordnung. Im ersten System werden zwei kleine, mit Laserlicht beleuchtete Oberflächenbereiche maßstabsgetreu auf eine Kamera mit genau definierter Geometrie (CCD) abgebildet und deren belastungsbedingte Verschiebung mit hoher Auflösung ermittelt. Der Laser übernimmt dabei die Funktion der Erzeugung eines kontrastreichen Musters, welches charakteristisch für die betrachteten Oberflächenbereiche der Probe ist (Fingerabdruck der Oberfläche). Die Differenz der beiden Verschiebungswerte, bezogen auf die durch den Abstand der beobachteten Bereiche definierte Basislänge, ergibt die gesuchte Dehnung der Probe. Da die Auflösung des Systems mit zunehmender Basislänge besser wird und das Messprinzip aber über eben diese Basislänge mittelt und viele Anwender einen Sensor benötigen, der die Messgröße ortsmäßig auflösen kann, wurde ein in dieser Hinsicht verbessertes Verfahren basierend auf einer Idee von Yamaguchi entwickelt. In diesem Artikel werden Eigenschaften und Anwendungsmöglichkeiten beider Systeme gegenübergestellt und diskutiert.

KW - Dehnungsmessung

KW - Laser Speckle

KW - Laser-Speckle-Dehnungsmessung

KW - Materialdehnung

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=0038195793&partnerID=8YFLogxK

U2 - 10.1524/teme.70.2.71.20109

DO - 10.1524/teme.70.2.71.20109

M3 - Artikel

AN - SCOPUS:0038195793

VL - 70.2003

SP - 71

EP - 78

JO - Technisches Messen

JF - Technisches Messen

SN - 0171-8096

IS - 2

ER -